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Deformation measuring method and apparatus using electronic speckle pattern interferometry

机译:使用电子散斑图案干涉术的变形测量​​方法和设备

摘要

A deformation measuring method using electronic speckle pattern interferometry comprises the steps of subtracting an average intensity from the intensity in a time domain at each point of a speckle pattern image so as to compute the cosine component of intensity; subjecting the cosine component to Hilbert transform in a temporal domain so as to compute the sine component of intensity; determining the arctangent of the ratio between thus computed sine and cosine components so as to determine an object phase; carrying out an unwrapping operation; and outputting three-dimensional deformation distribution data in a displayable mode.
机译:使用电子散斑图案干涉术的变形测量​​方法包括以下步骤:从散斑图案图像的每个点处的时域中的强度中减去平均强度,以计算强度的余弦分量。使余弦分量在时域中进行希尔伯特变换,以计算强度的正弦分量;确定由此计算出的正弦分量和余弦分量之比的反正切,从而确定物体相位;进行展开操作;以可显示的方式输出三维变形分布数据。

著录项

  • 公开/公告号US6943870B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-09-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SATORU TOYOOKA;HIROFUMI KADONO;

    申请/专利号US20030334784

  • 发明设计人 SATORU TOYOOKA;HIROFUMI KADONO;

    申请日2003-01-02

  • 分类号G01B9/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:20:36

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