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Dynamic RAM storage device for row-cycle time and read latency in semiconductors has a cell field with multiple memory cells, a control device and an electrical bias

机译:用于半导体中的行周期时间和读取延迟的动态RAM存储设备具有一个具有多个存储单元的单元场,一个控制设备和一个电偏置

摘要

A write cycle has a stage (CHARGE) for writing data into memory cell capacitors so that a minimum row-cycle time (tRC) is produced for a write command (WR) for the row-cycle time. A control device can be designed so that a minimum write command row-cycle time (tRC(WR)) is equal to a minimum destructive read command row-cycle time (tRC(DRD)). An independent claim is also included for a method for reading data from, and writing data to, memory cells in a dynamic RAM device.
机译:写周期具有用于将数据写到存储单元电容器中的阶段(CHARGE),从而针对行周期时间的写命令(WR)产生最小的行周期时间(tRC)。可以将控制设备设计为使得最小写命令行周期时间(tRC(WR))等于最小破坏性读命令行周期时间(tRC(DRD))。还包括一种用于从动态RAM设备中的存储器单元读取数据并将数据写入其中的方法的独立权利要求。

著录项

  • 公开/公告号DE10317162A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-11-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE2003117162

  • 发明设计人 DORTU JEAN-MARK;SPIRKL WOLFGANG;

    申请日2003-04-14

  • 分类号G11C8/00;G11C7/08;G11C11/4096;G11C11/406;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 22:01:30

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