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Retaining ring for a wafer in chemical mechanical polishing has rounded edges and a roughness of at least two microns on the surface touching the polishing cloth

机译:用于化学机械抛光的晶片固定环在接触抛光布的表面上具有倒圆的边缘和至少2微米的粗糙度

摘要

A retaining ring for a wafer in a chemical-mechanical polishing process comprises a roughness of at least two microns in the surface touching the polishing cloth. The strip edges are rounded with a radius of greater than one mm.
机译:用于化学机械抛光工艺中的晶片的保持环在接触抛光布的表面中具有至少两个微米的粗糙度。带材边缘的圆角半径大于1毫米。

著录项

  • 公开/公告号DE10332624A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-02-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SILTRONIC AG;

    申请/专利号DE2003132624

  • 发明设计人 MUELLER PAUL;HENNHOEFER HEINRICH;

    申请日2003-07-17

  • 分类号H01L21/302;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 22:01:20

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