要解决的问题:获得一种能够在产品的质量管理中通过使用与存储在存储介质中的产品有关的历史来对产品中发生的现象进行原因调查的原因调查装置。根据大量数据附加到产品上。
解决方案:该设备包括现象信息获取部分,该现象信息获取部分获取目标产品5的现象信息。追踪信息提取部8从附着于对象商品5的追踪标签4中提取并存储对象商品5的历史因素信息,并存储历史因素信息。关联判定部61基于表示从各商品取得的现象信息和从粘贴在该商品上的追踪标签读取的历史因素信息之间的对应关系的对应数据库71,判定对象商品5的各历史因素信息是否一致。跟踪信息提取部分8提取的与目标产品5的现象信息有关。
版权所有:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006243794A
专利类型
公开/公告日2006-09-14
原文格式PDF
申请/专利权人 OMRON CORP;
申请/专利号JP20050054401
发明设计人 FUJII FUJIKI;
申请日2005-02-28
分类号G06Q50;G06Q10;G05B19/418;G06F17/30;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:56:57