要解决的问题:提供一种校正因波长而异的有效测量空间体积的方法,以获得正确的测量结果。解决方案:该荧光光谱分析仪配备有至少一个激发光源1、7,用于产生激发光以照射样品;物镜13,用于将激发光会聚到样品内的极微区域;透镜20。 ,用于聚集由激发光激发的荧光的光检测器26、26,至少两个或更多个光电检测器18、24,以及在各个检测器18、24的前面布置有针孔21、27的共焦光学系统,以有效地产生极微荧光检测空间,并使用由各个检测器18、24检测到的荧光强度的互相关信号进行分析。分析仪设有用于校正与由各个检测器18、24检测到的荧光强度相对应的有效测量空间体积的装置。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006017628A
专利类型
公开/公告日2006-01-19
原文格式PDF
申请/专利权人 OLYMPUS CORP;
申请/专利号JP20040196998
发明设计人 HORIKAWA YOSHIAKI;
申请日2004-07-02
分类号G01N21/64;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:55:25