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Shallow-junction fabrication in semiconductor devices via plasma implantation and deposition

机译:通过等离子体注入和沉积在半导体器件中进行浅结制造

摘要

A method for fabricating a semiconductor-based device includes disposing a substrate in a process chamber of a process tool, plasma implanting a dopant species from a plasma into a portion of the substrate in the process chamber, and plasma depositing a diffusion barrier on the implanted portion of the substrate prior to removing the at least one substrate from the process tool. The diffusion barrier can be deposited in the same chamber as that used for dopant implantation or a different chamber of the process tool.
机译:一种用于制造基于半导体的器件的方法,该方法包括:将基板设置在处理工具的处理腔室中;将来自等离子体的掺杂剂种类等离子体注入处理腔室中的一部分基板中;以及在所植入的等离子体上沉积扩散阻挡层从处理工具中移除至少一个基板之前,先移除基板的一部分。扩散阻挡层可以沉积在与用于掺杂剂注入的腔室相同的腔室中,或者沉积在处理工具的不同腔室中。

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