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Method for inspecting quality of sensor chip, sample evaluating method, DNA chip, and protein chip

机译:传感器芯片的质量检查方法,样品评价方法,dna芯片和蛋白质芯片

摘要

A method for inspecting a quality of a sensor chip using either of (1) and (2) indicated below as a judgment index is provided: (1) interrelations of a plurality of circadian rhythm control genes in respect of expression level thereof; and (2) time-lapse patterns of specified circadian rhythm control genes in respect of expression level thereof. A method of evaluating whether sampling and preparation of a sample to be subjected to detection of interaction between substances is proper is also provided wherein (1) or (2) defined above is used as a judgment index. DNA and protein chips useful for the methods are also provided.
机译:本发明提供一种使用以下所示的(1)和(2)中的任一个作为判断指标的传感器芯片的质量检查方法:(1)关于多个昼夜节律控制基因的表达水平的相互关系; (2)特定昼夜节律控制基因在其表达水平方面的延时模式。还提供了一种评估将要进行物质间相互作用检测的样品的取样和制备是否适当的方法,其中将以上定义的(1)或(2)用作判断指标。还提供了可用于该方法的DNA和蛋白质芯片。

著录项

  • 公开/公告号US2006073495A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAKURO YAMAMOTO;TORU TAKUMI;

    申请/专利号US20050174272

  • 发明设计人 TAKURO YAMAMOTO;TORU TAKUMI;

    申请日2005-07-01

  • 分类号C12Q1/68;C12M1/34;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:43:48

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