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Method of forming a multi-layer semiconductor structure having a seamless bonding interface

机译:形成具有无缝键合界面的多层半导体结构的方法

摘要

A method of forming a multi-layer semiconductor structure includes providing a first layer of a patterned copper bond film having a first predetermined thickness onto a first surface of a first semiconductor. The method further includes providing a second layer of a patterned copper bond film having a second predetermined thickness onto a first surface of a second semiconductor. The first and second semiconductor structures can be aligned, such that the first and second patterned copper bond films are disposed in proximity. A virtually seamless bond can be formed between the first and second patterned copper bond films to provide the first and second semiconductors as the multi-layer semiconductor structure.
机译:一种形成多层半导体结构的方法,包括在第一半导体的第一表面上提供具有第一预定厚度的图案化铜键合膜的第一层。该方法还包括在第二半导体的第一表面上提供具有第二预定厚度的图案化铜键合膜的第二层。第一和第二半导体结构可以被对准,使得第一和第二图案化的铜键合膜被布置为邻近。可以在第一图案化的铜键合膜和第二图案化的铜键合膜之间形成实际上无缝的键合,以提供第一半导体和第二半导体作为多层半导体结构。

著录项

  • 公开/公告号US7064055B2

    专利类型

  • 公开/公告日2006-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RAFAEL REIF;ANDY FAN;

    申请/专利号US20030655670

  • 发明设计人 RAFAEL REIF;ANDY FAN;

    申请日2003-09-05

  • 分类号H01L21/4763;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:43:22

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