首页> 外国专利> ADC calibration to accommodate temperature variation using vertical blanking interrupts

ADC calibration to accommodate temperature variation using vertical blanking interrupts

机译:使用垂直消隐中断进行ADC校准以适应温度变化

摘要

In digital display circuitry, configured to display an image encoded in an analog display signal, the digital display circuitry includes analog-to-digital converter (ADC) circuitry to recover pixel data elements of the image. During vertical blanking intervals of the analog display signal, the ADC circuitry is calibrated. Outside the vertical blanking intervals, the ADC circuitry is used to convert information in the analog display signal into digital representations of the pixel data elements. For example, the calibrating may include determining more acceptable values for certain ones of the operational parameters of the ADC circuitry.
机译:在被配置为显示以模拟显示信号编码的图像的数字显示电路中,数字显示电路包括模数转换器(ADC)电路以恢复图像的像素数据元素。在模拟显示信号的垂直消隐间隔期间,将对ADC电路进行校准。在垂直消隐间隔之外,ADC电路用于将模拟显示信号中的信息转换为像素数据元素的数字表示。例如,校准可以包括为ADC电路的某些操作参数确定更多可接受的值。

著录项

  • 公开/公告号EP1624433A3

    专利类型

  • 公开/公告日2006-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GENESIS MICROCHIP INC.;

    申请/专利号EP20050254691

  • 发明设计人 THOMAS JOHN;

    申请日2005-07-27

  • 分类号G09G3/20;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 21:28:59

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号