首页> 外国专利> Redundancy circuit for NAND flash memory device, applies external data to main page buffer unit or redundancy page buffer unit according to redundancy control signal from contact addressable memory cell

Redundancy circuit for NAND flash memory device, applies external data to main page buffer unit or redundancy page buffer unit according to redundancy control signal from contact addressable memory cell

机译:用于NAND闪存设备的冗余电路,根据来自触点可寻址存储单元的冗余控制信号,将外部数据施加到主页面缓冲单元或冗余页面缓冲单元

摘要

The main/redundancy page buffer units sense data of memory cells of main/redundancy cell blocks, or buffer external data and apply buffered data to main/redundancy cell blocks, respectively. A select unit applies external data to main or redundancy page buffer units according to redundancy control signal from contact addressable memory cell.
机译:主/冗余页面缓冲单元感测主/冗余单元块的存储单元的数据,或者缓冲外部数据,并将缓冲的数据分别应用于主/冗余单元块。选择单元根据来自触点可寻址存储单元的冗余控制信号,将外部数据施加到主或冗余页面缓冲单元。

著录项

  • 公开/公告号DE102004060350A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MAGNACHIP SEMICONDUCTOR LTD.;

    申请/专利号DE20041060350

  • 发明设计人 KIM EUI SUK;

    申请日2004-12-15

  • 分类号G11C29/00;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 21:20:36

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号