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device for goniometrischen study optical oberfl amp; auml; cheneigenschaften
device for goniometrischen study optical oberfl amp; auml; cheneigenschaften
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机译:测角研究光学表面的装置属性
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devicethe study of optical oberfl & auml; cheneigenschaften mitwenigstensa first strahlungseinrichtung, which at least onethe first predetermined angle radiation on a testoberfl & auml; cheat least one of the first detektionseinrichtung sends;inclusion of the oberfl & auml; cheand the emitted ckgestrahlten and professional;radiation, with the detektionseinrichtung a ortsaufgel & all detection; stethe radiation allowed at least. a second predetermined angleat & t.;.the oberfl & auml; cheis arranged; and at least one solid angle under whichthe strahlungseinrichtung and / or detektionseinrichtung orderedare not & auml; nderbaris; and with the strahlungseinrichung and detektionseinrichtungin a room are arranged at least partially lichtreflektierendequalities.
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