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device for goniometrischen study optical oberfl amp; auml; cheneigenschaften

机译:测角研究光学表面的装置属性

摘要

devicethe study of optical oberfl & auml; cheneigenschaften mitwenigstensa first strahlungseinrichtung, which at least onethe first predetermined angle radiation on a testoberfl & auml; cheat least one of the first detektionseinrichtung sends;inclusion of the oberfl & auml; cheand the emitted ckgestrahlten and professional;radiation, with the detektionseinrichtung a ortsaufgel & all detection; stethe radiation allowed at least. a second predetermined angleat & t.;.the oberfl & auml; cheis arranged; and at least one solid angle under whichthe strahlungseinrichtung and / or detektionseinrichtung orderedare not & auml; nderbaris; and with the strahlungseinrichung and detektionseinrichtungin a room are arranged at least partially lichtreflektierendequalities.
机译:设备光学Oberfl和auml的研究; cheneigenschaften mitwenigstens第一个strahlungseinrichtung,至少一个测试中的第一预定角度辐射oberflä车至少第一个检测发送的邮件;包含oberflä车和散发出的ckgestrahlten和专业人士;辐射,用检测试剂或所有检测试剂进行检测; STE辐射至少允许。第二预定角度在&t。;。oberflä车安排至少一个立体角strahlungseinrichtung和/或detektionseinrichtung命令不是ä恩德巴是;以及strahlungseinrichung和detektionseinrichtung在房间里至少有一部分被安排品质。

著录项

  • 公开/公告号DE202004011811U1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BYK-GARDNER GMBH 82538 GERETSRIED DE;

    申请/专利号DE202004011811

  • 发明设计人

    申请日2004-07-28

  • 分类号G01N21/55;G01N21/57;G01J3/50;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 21:20:06

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