要解决的问题:在探头单元中高精度地引导探头并缩小每个探头的尖端排列的间距。
解决方案:交错型微探针单元40通过背对背组合上侧微探针单元42和下侧微探针单元44而构成。上侧微探针单元42由具有多个凹槽的微探针引导件70构成。另外,在各槽72上分别配置有图72所示的微探针50和微探针50。下侧微探针单元44具有相同的结构。通过使用各向异性干燥形成具有与微探针50、51的轴部的高度和宽度相对应的沟槽深度和沟槽宽度的每个细长深沟槽,从而获得具有多个沟槽72的微探针引导件70、71。硅板的蚀刻方法。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007278799A
专利类型
公开/公告日2007-10-25
原文格式PDF
申请/专利权人 TOKYO CATHODE LABORATORY CO LTD;
申请/专利号JP20060104444
申请日2006-04-05
分类号G01R1/073;H01L21/66;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:15:46