要解决的问题:提供一种在设计布局之前估算半导体测试合格率的方法。
解决方案:该方法是通过对用于形成指定产品的单个库元素进行关键区域分析,并结合这些库元素来估计对测试产量的影响来实现的。例如,该方法考虑了对库元件之间的短路敏感度的测试合格率的影响和对布线故障敏感度的测试合格率的影响。该方法可以进一步权衡芯片尺寸的增加与测试合格率高的库元件的使用。因此,可以改变对库元素的选择,以使测试合格率最优化。该方法进一步在主要设计检查点重复验证,以在向客户估计产品时再次验证初始测试产量估计值的可接受性。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007123894A
专利类型
公开/公告日2007-05-17
原文格式PDF
申请/专利号JP20060290469
申请日2006-10-25
分类号H01L21;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:14:05