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Macro-placement designing apparatus, program product, and method considering density

机译:考虑密度的宏布局设计设备,程序产品和方法

摘要

According to an embodiment of the invention, a pattern density checking program product for causing a computer including a storage unit prestoring chip data about a pattern density check target chip and mask data of the chip to execute a pattern density checking process, includes: a first step of reading the mask data and creating a scribing frame model having a data ratio of a scribing frame corresponding to one density check target chip based on the mask data; and a second step of reading the chip data and executing a density check for one chip including the chip data and the scribing frame model.
机译:根据本发明的实施例,一种用于使包括存储单元的计算机的图案密度检查程序产品,该存储单元存储关于图案密度检查目标芯片的芯片数据和该芯片的掩模数据,以执行图案密度检查处理,该图案密度检查程序产品包括:读取掩模数据并基于掩模数据创建具有对应于一个密度检查目标芯片的划线帧的数据比率的划线帧模型的步骤;第二步骤是读取芯片数据并对包括芯片数据和划线框架模型的一个芯片执行密度检查。

著录项

  • 公开/公告号US2006289750A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AYANO YAMAGUCHI;

    申请/专利号US20060445226

  • 发明设计人 AYANO YAMAGUCHI;

    申请日2006-06-02

  • 分类号G01N23/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:03:50

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