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Vertically aligned nanostructure scanning probe microscope tips

机译:垂直排列的纳米结构扫描探针显微镜头

摘要

Methods and apparatus are described for cantilever structures that include a vertically aligned nanostructure, especially vertically aligned carbon nanofiber scanning probe microscope tips. An apparatus includes a cantilever structure including a substrate including a cantilever body, that optionally includes a doped layer, and a vertically aligned nanostructure coupled to the cantilever body.
机译:描述了用于包括垂直排列的纳米结构的悬臂结构的方法和设备,特别是垂直排列的碳纳米纤维扫描探针显微镜尖端。一种设备包括悬臂结构,该悬臂结构包括衬底,该衬底包括悬臂体,该悬臂体可选地包括掺杂层;以及垂直对齐的纳米结构,其耦合至悬臂体。

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