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机译:测量电子密度和等离子体过程的系统,使用中的等离子体的共振频率的变化
公开/公告号AT366927T
专利类型
公开/公告日2007-08-15
原文格式PDF
申请/专利权人 TOKYO ELECTRON LIMITED;
申请/专利号AT20000975171T
发明设计人 VERDEYEN JOSEPH;JOHNSON WAYNE;SIRKIS MURRAY;
申请日2000-07-20
分类号G01N27/62;H01J37/32;H05H1/00;H05H1/46;
国家 AT
入库时间 2022-08-21 20:55:06
机译: 用于测量电子密度和等离子过程控制的系统,使用等离子开放式谐振器的谐振频率变化
机译: 测量电子密度和等离子体过程的系统,使用中的等离子体的共振频率的变化
机译: 利用容纳等离子体的释放型共振器的共振频率的变化的电子密度测量和等离子体处理控制系统