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system for measuring the electron density and plasma process, the changes in the resonance frequency of a plasma containing open in use

机译:测量电子密度和等离子体过程的系统,使用中的等离子体的共振频率的变化

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号AT366927T

    专利类型

  • 公开/公告日2007-08-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOKYO ELECTRON LIMITED;

    申请/专利号AT20000975171T

  • 申请日2000-07-20

  • 分类号G01N27/62;H01J37/32;H05H1/00;H05H1/46;

  • 国家 AT

  • 入库时间 2022-08-21 20:55:06

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