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SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING A STRAINED SUPERLATTICE AND OVERLYING STRESS LAYER AND RELATED METHODS

机译:包括应变超晶格和上覆应力层的半导体器件及相关方法

摘要

A semiconductor device may include a strained superlattice layer (325)including a plurality of stacked groups of layers, and a stress layer abovethe strained superlattice layer. Each group of layers of the strainedsuperlattice layer may include a plurality of stacked base semiconductormonolayers defining a base semiconductor portion, and at least one non-semiconductor monolayer constrained within a crystal lattice of adjacent basesemiconductor portions.
机译:半导体器件可包括应变超晶格层(325)包括多个堆叠的层组,以及上方的应力层应变超晶格层。每组各层的应变超晶格层可以包括多个堆叠的基础半导体限定基础半导体部分的单层,以及至少一个非-半导体单层被限制在相邻基底的晶格内半导体部分。

著录项

  • 公开/公告号CA2612123A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MEARS TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号CA20062612123

  • 发明设计人 MEARS ROBERT J.;KREPS SCOTT A.;

    申请日2006-07-14

  • 分类号H01L29/15;H01L21/336;H01L21/8234;H01L29/10;

  • 国家 CA

  • 入库时间 2022-08-21 20:53:45

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