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Bismuth titanium silicon oxide, bismuth titanium silicon oxide thin film and preparing method thereof

机译:铋钛硅氧化物,铋钛硅氧化物薄膜及其制备方法

摘要

A bismuth titanium silicon oxide having a pyrochlore phase, a thin film formed of the bismuth titanium silicon oxide, a method for forming the bismuth-titanium-silicon oxide thin film, a capacitor and a transistor for a semiconductor device including the bismuth-titanium-silicon oxide thin film, and an electronic device employing the capacitor and/or the transistor are provided. The bismuth titanium silicon oxide has good dielectric properties and is thermally and chemically stable. The bismuth-titanium-silicon oxide thin film can be effectively used as a dielectric film of a capacitor or as a gate dielectric film of a transistor in a semiconductor device. Various electronic devices having good electrical properties can be manufactured using the capacitor and/or the transistor having the bismuth-titanium-silicon oxide film.
机译:具有烧绿石相的铋钛硅氧化物,由铋钛硅氧化物形成的薄膜,用于形成铋钛硅氧化物薄膜的方法,电容器以及用于包括该铋钛硅化物的半导体器件的晶体管。提供了一种氧化硅薄膜以及使用该电容器和/或晶体管的电子设备。铋钛硅氧化物具有良好的介电性能,并且具有热稳定性和化学稳定性。铋钛硅氧化物薄膜可以有效地用作电容器的介电膜或半导体器件中的晶体管的栅极介电膜。可以使用具有铋钛硅氧化物膜的电容器和/或晶体管来制造具有良好电特性的各种电子设备。

著录项

  • 公开/公告号KR100723399B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20020046306

  • 申请日2002-08-06

  • 分类号H01L21/316;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:32:04

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