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A method for generating a mask layout imaging errors be avoided for a mask

机译:避免了用于掩模的用于生成掩模布局成像误差的方法

摘要

A method for generating an image errors are avoided, final mask layout (20 '') for a mask (10), wherein the– a generated, provisional auxiliary - mask layout (110) in the final mask layout (20 '') with the aid of an opc - process is converted, wherein a main part (120, 130) of the preliminary auxiliary - mask layout (110) of the present invention is not optically auxiliary structures (160, 320) are associated with and within the framework of the opc - process exclusively of the optically not resolvable auxiliary structures (160, 320) is to be changed, wherein the main part (120, 130) itself remains unchanged,– the at least in the region of a partial section in a first direction oriented main part (120, 130) of the preliminary auxiliary - mask layout (110) is a group (315, 340) extending parallel to each other, are not decompose optically auxiliary structures (320, 350) associated therewith and the auxiliary structures of the group consisting of adjacent to the part, are aligned in a second direction, the different from said first direction,characterized by the,that within the scope of the opc - method for each optically not dissolvable auxiliary structure (160, 320) of the group each..
机译:避免了用于产生图像错误的方法,即掩模(10)的最终掩模布局(20”),其中,最终掩模布局(20”)中的所生成的临时辅助掩模布局(110)具有:借助于opc工艺的转换,其中本发明的初步辅助掩模布局(110)的主要部分(120、130)不是光学辅助结构(160、320)与框架相关联并且在框架内唯一的光学不可分辨的辅助结构(160、320)的过程将被更改,其中主要部分(120、130)本身保持不变,–至少在第一部分区域中初步辅助掩模布局(110)的方向定向的主要部分(120、130)是彼此平行延伸的组(315、340),不分解与其关联的光学辅助结构(320、350)和辅助结构相邻零件组成的组中的一个零件条件方向,与所述第一方向不同,其特征在于,在该opc方法的范围内,对于该组中的每个光学不可溶解的辅助结构(160、320)。

著录项

  • 公开/公告号DE102005002533B4

    专利类型

  • 公开/公告日2007-09-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE20051002533

  • 发明设计人

    申请日2005-01-14

  • 分类号G03F1/00;G03F1/08;G03F1/14;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 20:30:02

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