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chemically enhanced negativphotoresistzusammensetzung

机译:化学增强的负光致抗蚀剂

摘要

A chemically-amplified, negative-acting, radiation-sensitive photoresist composition that is developable in an alkaline medium, the photoresist comprising:a) a phenolic film-forming polymeric binder resin having ring bonded hydroxyl groups;b) a photoacid generator that forms an acid upon exposure to radiation, in an amount sufficient to initiate crosslinking of the film-forming binder resin;c) a crosslinking agent that forms a carbonium ion upon exposure to the acid from step b) generated by exposure to radiation, and which comprises an etherified aminoplast polymer or oligomer;d) a second crosslinking agent that forms a carbonium ion upon exposure to the acid from step b) generated by exposure to radiation, and which comprises either 1) a hydroxy substituted- or 2) a hydroxy C1-C4 alkyl substituted-C1-C12 alkyl phenol, wherein the total amount of the crosslinking agents from steps c) and d) is an effective crosslinking amount; ande) a photoresist solvent,and a process for producing a microelectronic device utilizing such a photoresist composition.
机译:一种可在碱性介质中显影的化学放大的负作用辐射敏感光致抗蚀剂组合物,该光致抗蚀剂包括:a)具有环键合羟基的酚醛成膜聚合物粘合剂树脂; b)形成暴露于辐射下的酸,其量足以引发成膜粘合剂树脂的交联; c)交联剂,该交联剂在暴露于步骤b)的酸(通过暴露于辐射而产生的酸)时形成碳酸根离子,并且包含醚化氨基塑料聚合物或低聚物; d)第二种交联剂,其在暴露于步骤b)的酸中形成碳离子,该酸通过暴露于辐射而生成,并且包含1)羟基取代的或2)羟基C1-C4烷基取代的-C 1 -C 12烷基酚,其中步骤c)和d)中的交联剂的总量为有效交联量; (e)光致抗蚀剂溶剂,以及使用该光致抗蚀剂组合物的微电子器件的制造方法。

著录项

  • 公开/公告号DE60125539D1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AZ ELECTRONIC MATERIALS USA CORP.;

    申请/专利号DE2001625539T

  • 发明设计人 LU PING-HUNG;DAMMEL R.;XU PINGYONG;

    申请日2001-05-22

  • 分类号G03F7/038;G03F7/004;H01L21/027;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 20:28:20

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