首页> 外国专利> The elimination of the localized defects included within a subject-matter of the device.

The elimination of the localized defects included within a subject-matter of the device.

机译:消除了包含在设备主题中的局部缺陷。

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号FR2845684B1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE;

    申请/专利号FR20020012520

  • 发明设计人 BETEILLE FABIEN;

    申请日2002-10-09

  • 分类号C03B32/00;B23K26/16;B32B17/10;G02F1/15;G02F1/153;G02F1/17;H01L21/30;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 20:27:12

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号