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Secondary ion mass spectrometry and secondary neutral mass spectrometry using a multiple-plate buncher

机译:使用多板聚束器的二次离子质谱和二次中性质谱

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号GB0714301D0

    专利类型

  • 公开/公告日2007-08-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IONOPTIKA LIMITED;

    申请/专利号GB20070014301

  • 发明设计人

    申请日2007-07-21

  • 分类号

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-21 20:26:25

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