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Reducing corrosion in copper damascene processes

机译:减少铜镶嵌工艺中的腐蚀

摘要

Copper interconnects may be made using the damascene process with reduced copper corrosion. Copper corrosion may be reduced by planarizing through excess copper down to, but not completely through, a copper diffusion barrier layer. The copper diffusion barrier layer may be removed using a different technique. Thereafter, suitable chemicals may be utilized to clean the structure.
机译:可以使用镶嵌工艺在减少铜腐蚀的情况下制作铜互连。可以通过将多余的铜平面化,但不完全穿过铜扩散阻挡层,来减少铜腐蚀。可以使用不同的技术去除铜扩散阻挡层。此后,可以利用合适的化学药品来清洁结构。

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