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RFID system including a memory for correcting a fail cell and method for correcting a fail cell using the same

机译:包括用于校正故障单元的存储器的rfid系统以及使用该系统的校正故障单元的方法

摘要

A radio frequency identification (RFID) system and a method for correcting a failed cell using the same are provided. The RFID system effectively corrects randomly distributed cell data by using a failed cell correcting circuit in a memory. In the RFID system, a predetermined number of unit cells are separated into one memory group, and the same data are stored in each memory group at a write mode. At a read mode, the cell data of the selected memory group are compared, and the same data are identified as effective data to improve yield of the RFID system.
机译:提供了一种射频识别(RFID)系统和一种使用该系统来校正故障小区的方法。 RFID系统通过使用存储器中的故障单元校正电路来有效地校正随机分布的单元数据。在RFID系统中,预定数量的单位单元被分成一个存储组,并且相同的数据以写模式存储在每个存储组中。在读取模式下,将比较所选存储组的单元数据,并将相同数据标识为有效数据,以提高RFID系统的产量。

著录项

  • 公开/公告号US7313037B2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HEE BOK KANG;JIN HONG AHN;

    申请/专利号US20050298670

  • 发明设计人 HEE BOK KANG;JIN HONG AHN;

    申请日2005-12-12

  • 分类号G11C29;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:09:21

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