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QUALITY INSPECTION METHOD, QUALITY INSPECTION DEVICE AND QUALITY INSPECTION SYSTEM

机译:质量检验方法,质量检验装置和质量检验系统

摘要

A quality inspection method comprises: confirming quality inspection objects and the corresponding quality inspection content (201); searching a system that the quality inspection data needed for this quality inspection is stored in, base upon the confirmed quality inspection objects and the corresponding quality inspection content, then fetching the corresponding quality inspection data from said system (202); and calculating the quality inspection result according to the fetched quality inspection data (203). Using this quality inspection method, it may do some hierarchy quality inspections on different service representatives in different systems, and then may store quality inspection results in the same database, thus, it is convenient for doing query, statistics, analysis and so on. A quality inspection system comprises a database and a quality inspection device, wherein the quality inspection device comprises a user inputting unit and a main control unit.
机译:一种质量检查方法,包括:确定质量检查对象和相应的质量检查内容(201);基于确认的质量检查对象和相应的质量检查内容,搜索存储有该质量检查所需的质量检查数据的系统,然后从所述系统中获取相应的质量检查数据(202);根据获取的质量检验数据计算质量检验结果(203)。使用这种质量检查方法,可以对不同系统中不同服务代表进行分层质量检查,然后可以将质量检查结果存储在同一数据库中,从而方便进行查询,统计,分析等工作。质量检查系统包括数据库和质量检查设备,其中该质量检查设备包括用户输入单元和主控制单元。

著录项

  • 公开/公告号WO2008092349A1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUAWEI TECHNOLOGIES CO. LTD.;WANG WEI;

    申请/专利号WO2007CN71000

  • 发明设计人

    申请日2007-10-31

  • 分类号G06Q10/00;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 19:57:54

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