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QUALITY INSPECTION METHOD, QUALITY INSPECTION DEVICE AND QUALITY INSPECTION SYSTEM

机译:质量检验方法,质量检验装置和质量检验系统

摘要

An embodiment of the present invention discloses a quality check (QC) method, including: determining a QC object to be checked and its QC content (201); searching a system where QC data needed for the QC is located, according to the determined QC object and its QC content, and obtaining the corresponding QC data from the system (202); and computing QC result according to the obtained QC data (203). With the QC method, it may perform a uniform hierarchical QC on service representatives in different systems and QC results can be stored uniformly in the same database, which facilitates query, statistics and analysis of the QC results. An embodiment of the present invention also discloses a QC system including a database and QC device. The QC device includes a user input unit and a master control unit.
机译:本发明实施例公开了一种质量检查(QC)方法,包括:确定要检查的QC对象及其QC内容(201);根据确定的QC对象及其QC内容,查找所述QC所需的QC数据所在的系统,并从系统中获取对应的QC数据(202);根据获得的质量控制数据计算质量控制结果(203)。使用质量控制方法,可以对不同系统中的服务代表执行统一的分层质量控制,并且质量控制结果可以均匀地存储在同一数据库中,这有助于对质量控制结果进行查询,统计和分析。本发明的实施例还公开了一种包括数据库和QC设备的QC系统。该QC设备包括用户输入单元和主控制单元。

著录项

  • 公开/公告号EP2116963A1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-11-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUAWEI TECHNOLOGIES CO. LTD.;

    申请/专利号EP20070817191

  • 发明设计人 WANG WEI;

    申请日2007-10-31

  • 分类号G06Q10/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 18:37:24

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