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SYSTEM FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS AND MEHTOD OF MEASURING SURFACE ROUGHNESS

机译:测量表面粗糙度的系统和测量表面粗糙度的方法

摘要

A system and a method for measuring surface roughness are provided to save cost by minimizing abrasion of a probe and measuring surface roughness of a film accurately. A system for measuring surface roughness comprises a diameter measuring unit(100), a data storage unit(200), an operation unit(300) and an output unit(400). The diameter measuring unit measures the horizontal diameter of a projection of a film. The data storage unit includes stored data on the height of the projection according to the horizontal diameter. The operation unit estimates surface roughness of the film by comparing information on the diameter with the data inputted from the data storage unit. The output unit displays the surface roughness estimated from the operation unit.
机译:提供一种用于测量表面粗糙度的系统和方法,以通过最小化探针的磨损并精确地测量膜的表面粗糙度来节省成本。用于测量表面粗糙度的系统包括直径测量单元(100),数据存储单元(200),操作单元(300)和输出单元(400)。直径测量单元测量膜的投影的水平直径。数据存储单元包括根据水平直径存储的关于突起的高度的数据。运算单元通过将直径的信息与从数据存储单元输入的数据进行比较来估计膜的表面粗糙度。输出单元显示从操作单元估算出的表面粗糙度。

著录项

  • 公开/公告号KR20080012572A

    专利类型

  • 公开/公告日2008-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG SDI CO. LTD.;

    申请/专利号KR20060073577

  • 发明设计人 KIM SEOK JIN;

    申请日2006-08-04

  • 分类号G01B11/30;G01B11/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 19:54:11

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