首页> 外国专利> SYSTEM FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS AND MEHTOD OF MEASURING SURFACE ROUGHNESS

SYSTEM FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS AND MEHTOD OF MEASURING SURFACE ROUGHNESS

机译:测量表面粗糙度的系统和测量表面粗糙度的方法

摘要

The surface roughness measurement system according to the present invention is membrane diameter measuring unit for measuring the horizontal diameter of the protruding portion , membrane diameter information of the data storage unit , the diameter membrane protrusions measured in the measurement unit for storing data about the height of the protrusions according to the horizontal diameter of the projecting portion is entered , data is input from the data storage section , the diameter an output unit for displaying a surface roughness is calculated from the operation unit and operation unit and information for calculating the data are compared to the film surface roughness .
机译:根据本发明的表面粗糙度测量系统是用于测量突出部的水平直径的膜直径测量单元,数据存储单元的膜直径信息,在测量单元中测量的用于存储关于高度的数据的膜凸起的直径。输入与突出部分的水平直径相对应的突起,从数据存储部分输入数据,从操作单元和操作单元计算出用于显示表面粗糙度的输出单元的直径,并比较用于计算数据的信息到薄膜表面粗糙度。

著录项

  • 公开/公告号KR101275793B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20060073577

  • 发明设计人 김석진;

    申请日2006-08-04

  • 分类号G01B11/30;G01B11/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:25:01

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号