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Sample measurement unit, for an infra red spectrometer, has a diamond attenuated total reflectance crystal with a flat/convex surface and an opposing surface with a saw tooth structure

机译:用于红外光谱仪的样品测量单元具有金刚石衰减的全反射晶体,该晶体具有平坦/凸形表面和相对表面具有锯齿结构

摘要

The sample measurement unit (1), for an infra red spectrometer, has a diamond attenuated total reflectance (ATR) crystal (3). The ATR crystal has a flat or convex surface (5) and a second opposing surface (11) with a saw tooth structure (13) in one direction (x), without varying in a direction (y) at right angles.
机译:用于红外光谱仪的样品测量单元(1)具有钻石衰减的全反射(ATR)晶体(3)。 ATR晶体具有平坦的或凸的表面(5)和第二相对表面(11),其在一个方向(x)上具有锯齿结构(13),而在方向(y)上没有直角变化。

著录项

  • 公开/公告号DE102006036808A1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-02-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BRUKER OPTIK GMBH;

    申请/专利号DE20061036808

  • 申请日2006-08-07

  • 分类号G01J3/42;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 19:49:51

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