首页> 外国专利> Method and apparatus for quantifying effects of temperature in periods of inactivity on an electrical energy storage device

Method and apparatus for quantifying effects of temperature in periods of inactivity on an electrical energy storage device

机译:用于量化不活动时段中的温度对电能存储设备的影响的方法和设备

摘要

An electrical energy storage device may undergo idleness periods. A method is disclosed that is effective to account for the effects that a temperature has during periods of inactivity on the electrical energy storage device.
机译:电能存储设备可能会经历闲置时间。公开了一种方法,该方法有效地解决了在不活动期间温度对电能存储设备的影响。

著录项

  • 公开/公告号DE102007026132A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS INC.;

    申请/专利号DE20071026132

  • 发明设计人

    申请日2007-06-05

  • 分类号G01R31/36;H02J7/02;B60K1/04;H01M10/42;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 19:49:14

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号