要解决的问题:提供一种公差分析计算系统,分析方法和程序,能够在设计部门执行公差设计,事先进行公差累积验证和最佳公差分布。
解决方案:尺寸条件设置部分22定义设计数据和每个组件的尺寸公差。一次分析执行部分13使用由尺寸公差设置部分22定义的尺寸公差来执行一次分析,并计算分布和偏差。最佳最小间隙操作部14使用计算出的分布或偏差来反算满足设计规格值的要求质量的间隙值,并算出作为最佳和最小的间隙值的最佳最小间隙值。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2009146162A
专利类型
公开/公告日2009-07-02
原文格式PDF
申请/专利权人 FUJITSU LTD;
申请/专利号JP20070322744
发明设计人 HAMAZOE KAZUHIKO;
申请日2007-12-14
分类号G06F17/50;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:43:22