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MACRO INSPECTION DEVICE, MACRO INSPECTION SYSTEM, AND MACRO INSPECTION METHOD

机译:宏检查装置,宏检查系统和宏检查方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To transfer a planar board to a macro inspection device in a short time without limiting the position and constitution of a holder concerning the macro inspection device, a macro inspection system, and a macro inspection method.;SOLUTION: The macro inspection device 1 having the holder 3 capable of changing-over an inspection angle with respect to an inspector 10 includes a board support member 2 for scooping and supporting the planar board 6. The planar board 6 is fixed to the holder 3 in a scooped state by the support member 2.;COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
机译:解决的问题:在不限制与宏检查装置,宏检查系统和宏检查方法有关的支架的位置和构造的情况下,将平板在短时间内转移到宏检查装置的方法;解决方案:宏具有能够相对于检查员10改变检查角度的保持器3的检查装置1包括用于铲起并支承平板6的板支撑部件2。平板6以铲起的状态固定在保持器3上。由支持成员2 .;版权:(C)2010,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2009231437A

    专利类型

  • 公开/公告日2009-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OLYMPUS CORP;

    申请/专利号JP20080073364

  • 发明设计人 NISHIZAWA MAKOTO;

    申请日2008-03-21

  • 分类号H01L21/683;G09F9/00;B05C11/00;B65G49/06;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:42:23

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