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Tool tips with scanning probe microscopy and/or atomic force microscopy applications

机译:带有扫描探针显微镜和/或原子力显微镜应用的工具提示

摘要

A micro-object is affixed to a mounting structure at a desired relative orientation. The micro-object may be a tool tip optimized to work with particular microscope objectives permitting the tip to be imaged along with the object surface and used to make measurements or modifications through a travel range along the microscope imaging axis equal to or nearly equal to the working distance of the given objective. The tool tip may have a lengths exceeding 80 microns, say up to several millimeters; even the longest tips can have widths of tens of microns.
机译:微型物体以所需的相对方向固定在安装结构上。微型物体可以是经过优化以与特定显微镜物镜一起工作的工具尖端,从而允许尖端与物体表面一起成像,并用于在沿显微镜成像轴的移动范围等于或几乎等于物体的距离范围内进行测量或修改。给定物镜的工作距离。刀头的长度可能超过80微米,例如几毫米。即使最长的尖端也可以具有数十微米的宽度。

著录项

  • 公开/公告号US7571638B1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VICTOR B. KLEY;

    申请/专利号US20060531248

  • 发明设计人 VICTOR B. KLEY;

    申请日2006-09-12

  • 分类号G01B7/34;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:33:50

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