首页> 外国专利> CONTAMINANT REMOVING METHOD, CONTAMINANT REMOVING MECHANISM, AND VACUUM THIN FILM FORMATION PROCESSING APPARATUS

CONTAMINANT REMOVING METHOD, CONTAMINANT REMOVING MECHANISM, AND VACUUM THIN FILM FORMATION PROCESSING APPARATUS

机译:污染物去除方法,污染物去除机理和真空薄膜形成装置

摘要

A contaminant removing method of this invention has a step of emitting, in a vacuum, a directional beam to at least one of the lower surface edge and circumferential surface of a substrate to be processed having a thin film formed on its upper surface.
机译:本发明的污染物去除方法具有以下步骤:在真空中向在其上表面形成有薄膜的被处理基板的下表面边缘和周向表面中的至少一个发射定向光束。

著录项

  • 公开/公告号US2009032056A1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KOJI TSUNEKAWA;

    申请/专利号US20080181881

  • 发明设计人 KOJI TSUNEKAWA;

    申请日2008-07-29

  • 分类号B08B7/00;C23C16/56;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:31:37

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号