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Nonvolatile memory devices having floating gate electrodes with nitrogen-doped layers on portions thereof

机译:具有在其部分上具有氮掺杂层的浮置栅电极的非易失性存储器件

摘要

Nonvolatile memory devices are provided including an integrated circuit substrate and a charge storage pattern on the integrated circuit substrate. The charge storage pattern has a sidewall and a tunnel insulating layer is provided between the charge storage pattern and the integrated circuit substrate. A gate pattern is provided on the charge storage pattern. A blocking insulating layer is provided between the charge storage pattern and the gate pattern. The sidewall of the charge storage pattern includes a first nitrogen doped layer. Related methods of fabricating nonvolatile memory devices are also provided herein.
机译:提供了非易失性存储装置,其包括集成电路基板和在集成电路基板上的电荷存储图案。电荷存储图案具有侧壁,并且在电荷存储图案和集成电路基板之间设置有隧道绝缘层。栅极图案设置在电荷存储图案上。在电荷存储图案和栅极图案之间设置有阻挡绝缘层。电荷存储图案的侧壁包括第一氮掺杂层。本文还提供了制造非易失性存储器件的相关方法。

著录项

  • 公开/公告号US7566929B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHANG-HYUN LEE;DONG-GUN PARK;

    申请/专利号US20060471798

  • 发明设计人 CHANG-HYUN LEE;DONG-GUN PARK;

    申请日2006-06-21

  • 分类号H01L29/788;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:31:06

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