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such engineered scale and a positionsmesseinrichtung

机译:这样的工程规模和职位

摘要

In a method for producing a scale in the form of a phase grating, the scale itself, and a position measuring device including the scale, the scale includes two reflection layers located at a distance from one another on either side of a spacer layer. The production of the scale includes the following steps: provision of a first reflection layer, which is unbroken over its entire surface and fulfils the relationship A=R/eta=3, where R represents the degree of reflection and eta represents the backscatter coefficient for electrons; application of the spacer layer to the first reflection layer; application of the second reflection layer to the spacer layer; and structuring of the second reflection layer by an electron beam lithography process.
机译:在一种用于制造相位光栅形式的标尺的方法,标尺本身以及包括该标尺的位置测量装置中,标尺包括两个反射层,该两个反射层在间隔层的任一侧上彼此相距一定距离。标尺的生产包括以下步骤:提供第一反射层,该反射层在其整个表面上不破裂并且满足关系A = R / eta> = 3,其中R表示反射度,而eta表示后向散射系数电子将间隔层施加到第一反射层上;将第二反射层施加到间隔层上;通过电子束光刻工艺对第二反射层进行结构化。

著录项

  • 公开/公告号DE50213242D1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH;

    申请/专利号DE20025013242T

  • 发明设计人 SPECKBACHER PETER;FLATSCHER GEORG;

    申请日2002-09-24

  • 分类号G02B5/18;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 19:08:33

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