首页> 外国专利> integrated schaltungselement and manufacture with metalldotierten chalkogenid materials

integrated schaltungselement and manufacture with metalldotierten chalkogenid materials

机译:与金属白垩系材料相集成的schaltungselement和制造

摘要

A method of forming a chalcogenide memory element having a first electrode, a second electrode, and a doped chalcogenide layer interposed between the first electrode and the second electrode, the method comprising: forming a chalcogenide layer (215) on the first electrode (210); sputtering metal (240) onto the chalcogenide layer using a first plasma containing at least one component gas selected from the group consisting of neon and helium, thereby forming the doped chalcogenide layer (230), wherein the first plasma emits a UV component sufficient to induce diffusion of the sputtered metal into the chalcogenide layer; and sputtering metal (245) onto the doped chalcogenide layer using a second plasma containing at least one component gas having an atomic weight higher than an atomic weight of neon, thereby forming the second electrode (250).
机译:一种形成具有第一电极,第二电极和介于第一电极和第二电极之间的掺杂硫族化物层的硫族化物存储元件的方法,该方法包括:在第一电极(210)上形成硫属化物层(215);使用包含至少一种选自氖和氦的成分气体的第一等离子体,将金属(240)溅射到硫族化物层上,从而形成掺杂的硫族化物层(230),其中第一等离子体发射足以引起溅射的金属扩散到硫族化物层中的UV成分。和使用第二等离子体将金属(245)溅射到掺杂的硫族化物层上,所述第二等离子体包含至少一种原子量大于氖原子量的成分气体,从而形成第二电极(250)。

著录项

  • 公开/公告号DE60231129D1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号DE20026031129T

  • 发明设计人 LI JIUTAO;MCTEER ALLEN;

    申请日2002-08-30

  • 分类号C23C14/18;C23C14/34;C23C14/06;C23C14/54;C23C14/58;H01L27/105;H01L27/24;H01L45;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 19:07:54

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号