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METHOD OF ANALYZING THREE-DIMENSIONAL ATOM PROBE STRUCTURE DATA

机译:三维原子探针结构数据的分析方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To three-dimensionally search for a structure while complementing it with missing atoms by a simple method not requiring a large resource complicated in processing, as to a method of analyzing three-dimensional atom probe structure data.;SOLUTION: Based on an interatomic distance according to atomic level fine structure data on a specimen acquired by using a three-dimensional atom probe, the positions of atoms missing from the fine structure of an actual specimen are found without using reference data to complement it with atoms to the positions.;COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
机译:解决的问题:对于三维结构的原子探针结构数据的分析方法,通过一种不需要大量处理资源的简单方法,在三维结构中寻找缺失原子的同时对结构进行三维搜索。根据使用三维原子探针获取的样品的原子级精细结构数据在原子间距离上发现实际样品精细结构中缺少的原子的位置,而无需使用参考数据对原子进行补充。职位:版权:(C)2011,日本特许厅&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2010243458A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-10-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD;

    申请/专利号JP20090095451

  • 发明设计人 TSUKADA MINEHARU;

    申请日2009-04-10

  • 分类号G01N27/62;H01J37/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:04:56

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