要解决的问题:使同时操作X射线分析和热分析的设备的测量者能够轻松,快速,准确地掌握这些分析的测量条件之间的关系,并进行精细的测量。设置操作。解决方案:X射线分析和热分析的同时分析装置,其同时使用X射线分析装置和热分析装置进行测量,包括:X射线条件存储存储器,用于存储X射线分析测量的测量条件;热条件存储存储器,用于存储热分析测量的测量条件;图像显示设备,用于根据图像信号在屏幕33上显示图像。同时显示表示存储在热条件存储存储器中的热分析测量条件的折线图T和表示存储在X射线条件存储存储器中的表示X射线分析测量条件的两个或多个垂直线X的集合虚线图T是温度变化曲线,其中一对相邻的垂直线X代表进行一次X射线分析测量的时间和定时。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2010169573A
专利类型
公开/公告日2010-08-05
原文格式PDF
申请/专利权人 RIGAKU CORP;
申请/专利号JP20090013141
发明设计人 OBATA YASUSHI;
申请日2009-01-23
分类号G01N23/20;G01N23/203;G01N23/223;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:03:36