要解决的问题:在用于再现测试设备上运行的软件错误的系统中,轻松地再现软件错误并促进测试设备软件的开发。
解决方案:将包括测试人员执行测试时输入到测试设备的所有输入信号,一天中的输入时间以及测试设备已执行一天中的时间的操作内容记录为测试数据,它们的管理表以及每个测试ID的操作历史记录,并作为错误管理数据库进行管理。当再现测试时,输入测试ID,使用在错误管理数据库中保存的信息,由测试数据串行再现的输入信号时间,以及操作历史的控制信号输入到测试设备,并生成错误被复制。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2009295082A
专利类型
公开/公告日2009-12-17
原文格式PDF
申请/专利权人 HITACHI LTD;
申请/专利号JP20080150416
发明设计人 NAGANO TAKEHIKO;
申请日2008-06-09
分类号G06F11/28;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:02:04