首页> 外国专利> Spacer Shape Engineering for Void-Free Gap-Filling Process

Spacer Shape Engineering for Void-Free Gap-Filling Process

机译:无空隙间隙填充工艺的垫片形状工程

摘要

A method of forming a semiconductor device includes providing a semiconductor substrate; forming a gate stack on the semiconductor substrate; forming a gate spacer adjacent to a sidewall of the gate stack; thinning the gate spacer; and forming a secondary gate spacer on a sidewall of the gate spacer after the step of thinning the gate spacer.
机译:一种形成半导体器件的方法,包括:提供半导体衬底;以及形成半导体衬底。在半导体衬底上形成栅叠层;形成与栅极堆叠的侧壁相邻的栅极间隔物;变薄栅极隔离层;在减薄栅极隔离物的步骤之后,在栅极隔离物的侧壁上形成次级栅极隔离物。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号