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机译:绕射透镜进行首席射线角校正的方法和装置
公开/公告号US2010002302A1
专利类型
公开/公告日2010-01-07
原文格式PDF
申请/专利权人 JACQUES DUPARRE;JEFF VIENS;
申请/专利号US20080166077
发明设计人 JACQUES DUPARRE;JEFF VIENS;
申请日2008-07-01
分类号G02B5/18;B29D11/00;
国家 US
入库时间 2022-08-21 18:49:38
机译: X射线衍射测量中的x射线衍射装置和角度校正方法
机译: X射线衍射测量与X射线衍射系统中的角度校正方法
机译: 光学透镜组件产生具有不同角度的光束,每个光束都具有平行的主要光线和边缘射线