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Methods for forming dual fully silicided gates over fins of FinFet devices

机译:在FinFet器件的鳍片上形成双完全硅化栅极的方法

摘要

Methods for forming fully silicided gates over fins of FinFet devices are disclosed. The disclosure provides methods for patterning a gate stack over each fin from a polysilicon layer and a polysilicon germanium layer, and then removing the polysilicon germanium layer over one of the fins. The disclosure further includes forming a metal layer over both fins and annealing the FinFet device to form fully silicided gates over each fin of the FinFet device.
机译:公开了在FinFet器件的鳍片上形成完全硅化的栅极的方法。本公开提供了用于在来自多晶硅层和多晶硅锗层的每个鳍上方构图栅堆叠,然后去除其中一个鳍上方的多晶硅锗层的方法。本公开进一步包括在两个鳍片上形成金属层并且使FinFet器件退火以在FinFet器件的每个鳍片上形成完全硅化的栅极。

著录项

  • 公开/公告号US7691690B2

    专利类型

  • 公开/公告日2010-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HUILONG ZHU;ZHIJIONG LUO;

    申请/专利号US20070622586

  • 发明设计人 ZHIJIONG LUO;HUILONG ZHU;

    申请日2007-01-12

  • 分类号H01L21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:48:16

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