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METHOD FOR MANUFACTURING VOLTAGE AND CURRENT AND TEMPERATURE MEASUREMENT PROBE AND VOLTAGE AND CURRENT AND TEMPERATURE MEASUREMENT PROBE USING THE SAME

机译:制造电压和电流和温度测量探针的方法以及使用相同的电压和电流和温度测量探针的制造方法

摘要

PURPOSE: A method for preparing probe is provided to easily prevent damage from external shock by integrating a core assembly and power cable. CONSTITUTION: A method for preparing probe comprises: a step of preparing a core assembly for measuring voltage, current and temperature(S100); a step of protruding a first main body using BMC(bulk molding compound) on which the core assembly is placed(S200); a step of protruding a second main body using the BMC; and a step of protruding a main protection layer which surrounds the first main body and second main body using poly carbonate.
机译:用途:提供了一种制备探头的方法,以通过集成铁芯组件和电源线轻松防止外部冲击造成的损坏。构成:一种探针的制备方法,包括:制备用于测量电压,电流和温度的芯组件的步骤(S100);使用其上放置有芯组件的BMC(本体模塑料)使第一主体突出的步骤(S200);使用所述BMC使第二主体突出的步骤;并且,使用聚碳酸酯使包围第一主体和第二主体的主保护层突出的步骤。

著录项

  • 公开/公告号KR20100015139A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEJIN ELECTRON INC.;

    申请/专利号KR20080076063

  • 发明设计人 LIM YOUNG TAEK;PARK SONG KYE;

    申请日2008-08-04

  • 分类号G01R1/073;G01R15/18;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:33:23

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