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Method for forming fine patterns by spacer patterning technology

机译:利用间隔物图案化技术形成精细图案的方法

摘要

patterned on a semiconductor substrate (patterning) is performed to form a target layer and the polysilicon (poly silicon) After forming the layer, the amorphous carbon (amorphous carbon) forms a partition (partition) of a layer pattern on the polysilicon layer. Mounting a spacer (spacer) on the side wall of the partition, and then selectively removing the partition, by selectively removing the ends of the spacer are separated by the bar (bar) pattern. Selectively etching the exposed by the separate bar (bar) to pattern the polysilicon layer portion after forming a polysilicon layer pattern, by selectively etching the target layer portion exposed by the polysilicon layer pattern to form a target layer pattern It proposes a method for fine pattern formation.
机译:进行在半导体衬底上构图的图形(构图)以形成目标层和多晶硅(多晶硅)。在形成该层之后,非晶碳(非晶碳)在多晶硅层上形成层图形的分隔物(分区)。在隔板的侧壁上安装间隔件(间隔件),然后通过选择性地去除间隔件的端部而选择性地去除隔板,该间隔件由条(bar)图案分开。通过选择性地蚀刻由多晶硅层图案暴露的目标层部分以形成目标层图案,选择性地蚀刻由单独的条(条)暴露的暴露物以在形成多晶硅层图案之后对多晶硅层部分进行图案化。提出了一种用于精细图案化的方法编队。

著录项

  • 公开/公告号KR100961203B1

    专利类型

  • 公开/公告日2010-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20080040098

  • 发明设计人 최익수;조성윤;

    申请日2008-04-29

  • 分类号H01L21/28;H01L21/30;H01L21/31;H01L21/027;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:31:10

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