要解决的问题:为CMOS图像传感器提供较大的通孔焊盘,用于AlCu工艺。解决方案:集成电路包括具有键合焊盘区域和非键合焊盘区域的基板。在接合区域中的基板上形成相对较大的通孔,称为“大通孔”。大通孔在俯视图中具有朝向衬底的第一尺寸。集成电路还具有在非结合区域中的基板上形成的多个通孔。多个通孔在俯视图中均具有第二尺寸,并且第二尺寸远小于第一尺寸。
版权:(C)2011,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2011035399A
专利类型
公开/公告日2011-02-17
原文格式PDF
申请/专利号JP20100170162
申请日2010-07-29
分类号H01L21/3205;H01L23/52;H01L27/146;H01L27/14;H01L21/768;H01L21/60;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:24:20