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DESIGN/INTERPRETATION METHOD, DEVICE, AND PROGRAM OF TEST IN TRUNCATED LIFE OR TRUNCATED STRENGTH TEST

机译:截短寿命或截短强度测试的设计/解释方法,装置和程序

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To design a truncated life/strength, a test number, and a test stop reference and interpret a test result in a truncated test, perform these calculations without using random number, reduce random error, and compute them in a short time.;SOLUTION: The method includes an input step (P1) inputting information to a computer and a reply arithmetic processing step (P2). In a case of designing a truncated life/strength, the following equation is used in the reply arithmetic processing step (P2): Ai=G-1(B-1(R, i, n-i+1)); in which Ai: targeted truncated life or truncated strength, G-1(x): inverse function of cumulative distribution function of life or strength, B-1(R, i, n-i+1): inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function, R: reliability, and n: test number.;COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
机译:解决的问题:设计截短的寿命/强度,测试编号和测试停止参考,并在截断的测试中解释测试结果,无需使用随机数即可执行这些计算,减少随机误差,并在短时间内进行计算解决方案:该方法包括将信息输入计算机的输入步骤(P1)和答复算术处理步骤(P2)。在设计寿命/强度截断的情况下,在答复算术处理步骤(P2)中使用以下方程式:A i = G -1 (B -1 (R,i,n-i + 1));其中A i :目标截断寿命或截断强度,G -1 (x):寿命或强度的累积分布函数的反函数,B -1 (R,i,n-i + 1):β分布函数的累积分布函数的反函数,R:可靠性,n:测试号。;版权:(C)2011,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2011191120A

    专利类型

  • 公开/公告日2011-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NTN CORP;

    申请/专利号JP20100056026

  • 发明设计人 FUJITA TAKUMI;

    申请日2010-03-12

  • 分类号G01M13/04;G01N19/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:23:43

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