机译:检查结果分析方法和检查结果分析设备,异常设备检测方法和异常设备检测设备,使计算机执行检查结果分析方法或异常设备检测方法的程序,并记录在计算机中
要解决的问题:为了提供一种用于在短时间内准确校对的检查结果分析方法,第一基板面内特性分布信息表示先前在具有第二基板面内的生产线中进行检查的参考基板的检查结果。表示实际检查的分析对象基板的检查结果的特性分布信息。解决方案:检查结果分析方法包括在生产线中进行的处理,该处理包括以下步骤:计算表示第一基板装载方向与先前检查了用于执行该工艺的设备的基板的装载方向之间的差的角度。在第二基板装载方向上装载分析用目标基板(S101)。旋转第二基板面内特性分布信息以消除角度(S102);将旋转后的第二基板面内特性分布信息与第一基板面内特性分布信息进行对照(S103)。
版权:(C)2011,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2010272797A
专利类型
公开/公告日2010-12-02
原文格式PDF
申请/专利权人 SHARP CORP;
申请/专利号JP20090125279
发明设计人 IMAI KATSUKI;
申请日2009-05-25
分类号H01L21/66;H01L21/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:21:24