要解决的问题:提供一种自适应光学系统,用于减轻由入射辐射的偏振引起的调制特性的依赖性,提高光的利用效率,并具有一种能够校正被检物体像差的空间相位调制单元。 。
解决方案:自适应光学系统使用来自光源的光作为波前像差测量光,并校正由波前像差测量光照射到被检物体上而产生的返回光的像差,并且包括用于测量的装置像差和校正装置,用于基于所测量的像差来校正被检查物体产生的像差,该校正装置由空间相位调制装置和配备有偏振旋转装置的折叠光学系统组成,并且该光学系统在空间相位之后调制装置调制返回光分别不同的偏振分量中的第一偏振分量,当将调制后的返回光经由折叠光学系统引入空间相位调制装置一次后,每个不同的偏振光由偏振旋转装置旋转。再次进行调制,第二个极化com分量可以被调制。
版权:(C)2011,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2011087830A
专利类型
公开/公告日2011-05-06
原文格式PDF
申请/专利权人 CANON INC;
申请/专利号JP20090244961
发明设计人 SAITO KENICHI;
申请日2009-10-23
分类号A61B3/14;A61B3/10;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:20:31