首页> 外国专利> SYSTEM AND METHODS TO DETERMINE AND MONITOR CHANGES IN MICROSTRUCTURAL PROPERTIES

SYSTEM AND METHODS TO DETERMINE AND MONITOR CHANGES IN MICROSTRUCTURAL PROPERTIES

机译:确定和监测微观结构变化的系统和方法

摘要

A system and methods with which changes in microstructure properties such as grain size, grain elongation, texture, and porosity of materials can be determined and monitored over time to assess conditions such as stress and defects. An example system includes a number of ultrasonic transducers configured to transmit ultrasonic waves towards a target region on a specimen, a voltage source configured to excite the first and second ultrasonic transducers, and a processor configured to determine one or more properties of the specimen.
机译:可以确定并监测随时间变化的微观结构特性(例如晶粒尺寸,晶粒延伸率,织构和孔隙率)变化的系统和方法,以评估应力和缺陷等条件。示例系统包括:多个超声换能器,其被配置为朝着样本上的目标区域发射超声波;电压源,其被配置为激励第一和第二超声换能器;以及处理器,其被配置为确定样本的一个或多个特性。

著录项

  • 公开/公告号US2011098942A1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JOSEPH ALAN TURNER;

    申请/专利号US20110984291

  • 发明设计人 JOSEPH ALAN TURNER;

    申请日2011-01-04

  • 分类号G06F19/00;G01L1/00;G01N29/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:13:18

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号